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100L宇航志達(dá)高低溫濕熱恒溫交變測試箱用于針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗，是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。
100L宇航志達(dá)高低溫濕熱恒溫交變測試箱
高低溫試驗箱試驗標(biāo)準(zhǔn)
☆GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
☆GB10586-89低溫試驗箱技術(shù)條件
☆GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
☆GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
☆GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件
☆GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
☆GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：高溫試驗方法
☆GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca恒定濕熱試驗方法
☆GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法
☆GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
☆I(lǐng)EC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
☆I(lǐng)EC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法